Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology - - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540850380 - 2008年11月4日
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Applied Scanning Probe Methods XII: Characterization - NanoScience and Technology 2009 edition

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Additi- ally they might be damaged by the electron beam of the microscope or the vacuum might cause outgasing of solvents or evaporation of water and thus change material properties.

279 pages, 14 black & white tables, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2008年11月4日
ISBN13 9783540850380
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 224
寸法 162 × 244 × 16 mm   ·   498 g
言語 フランス語  
編集者 Bhushan, Bharat
編集者 Fuchs, Harald

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