Ludwig Reimer
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences Ludwig Reimer Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 edition

Name: Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences
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Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences

Ludwig Reimer

Softcover reprint of the original 2nd ed. 1998 edition

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

529 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2010年12月1日
ISBN13	9783642083723
出版社	Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数	529
寸法	241 × 161 × 33 mm · 771 g
言語	英語
寄稿者	Peter W Hawkes