Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences - Ludwig Reimer - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540639763 - 1998年9月17日
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Ludwig Reimer
Scanning Electron Microscopy: Physics of Image Formation and Microanalysis - Springer Series in Optical Sciences 2nd completely rev. and updated ed. 1998 edition

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The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

529 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1998年9月17日
ISBN13 9783540639763
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 529
寸法 242 × 166 × 34 mm   ·   975 g
言語 ドイツ語  
寄稿者 Peter W Hawkes

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