Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - 2010年2月12日
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年2月12日
ISBN13 9783642065699
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 420
寸法 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
言語 ドイツ語  
編集者 Bhushan, Bharat
編集者 Fuchs, Harald

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