Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 2006年2月21日
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Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

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These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2006年2月21日
発売日 2005
ISBN13 9783540262428
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 420
寸法 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
言語 ドイツ語  
編集者 Bhushan, Bharat
編集者 Fuchs, Harald

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