Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642062285 - 2010年11月23日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition

価格
¥ 42.703
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月4日 - 年9月22日
Mathias Schubert の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能:

The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.


196 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2010年11月23日
ISBN13 9783642062285
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 196
寸法 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事