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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics Mathias Schubert Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2004 edition
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Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics
Mathias Schubert
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
196 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2010年11月23日 |
| ISBN13 | 9783642062285 |
| 出版社 | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| ページ数 | 196 |
| 寸法 | 155 × 235 × 11 mm · 299 g |
| 言語 | 英語 |