Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics - Mathias Schubert - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540232490 - 2004年11月26日
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Mathias Schubert
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons - Springer Tracts in Modern Physics 2004 edition

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The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.

196 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2004年11月26日
ISBN13 9783540232490
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 196
寸法 155 × 232 × 12 mm   ·   476 g
言語 英語   ドイツ語  

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