Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - 書籍 - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642024160 - 2010年9月5日
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Otwin Breitenstein
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics 2nd ed. 2010 edition

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This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.

250 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2010年9月5日
ISBN13 9783642024160
出版社 Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
ページ数 258
寸法 155 × 235 × 20 mm   ·   498 g
言語 フランス語  

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