Quantum Metrology, Imaging, and Communication - Quantum Science and Technology - David S. Simon - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319835402 - 2018年7月4日
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David S. Simon
Quantum Metrology, Imaging, and Communication - Quantum Science and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2017 edition

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This book describes the experimental and theoretical bases for the development of specifically quantum-mechanical approaches to metrology, imaging, and communication. The particular techniques explored include two-photon interferometry, two-photon optical aberration and dispersion cancellation, lithography, microscopy, and cryptography.

273 pages, 40 Tables, color; 68 Illustrations, color; 37 Illustrations, black and white; XII, 273 p.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2018年7月4日
ISBN13 9783319835402
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 273
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   408 g
言語 ドイツ語  

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