David S. Simon
Quantum Metrology, Imaging, and Communication - Quantum Science and Technology David S. Simon 1st ed. 2017 edition

Name: Quantum Metrology, Imaging, and Communication - Quantum Science and Technology
Price: 29180 JPY
Availability: OutOfStock
Author: David S. Simon

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Quantum Metrology, Imaging, and Communication - Quantum Science and Technology

David S. Simon

1st ed. 2017 edition

This book describes the experimental and theoretical bases for the development of specifically quantum-mechanical approaches to metrology, imaging, and communication. The particular techniques explored include two-photon interferometry, two-photon optical aberration and dispersion cancellation, lithography, microscopy, and cryptography.

273 pages, 37 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 40 colour tables, biography

メディア	書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本)
リリース済み	2016年12月8日
ISBN13	9783319465494
出版社	Springer International Publishing AG
ページ数	273
寸法	242 × 164 × 21 mm · 620 g
言語	フランス語