Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783319756868 - 2018年3月19日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences 2018 edition

価格
¥ 36.834
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月16日 - 年9月28日

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2018年3月19日
ISBN13 9783319756868
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 521
寸法 242 × 167 × 38 mm   ·   986 g
言語 ドイツ語  
編集者 Glatzel, Thilo
編集者 Sadewasser, Sascha

同じ出版社からのその他の記事