Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences - - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 2019年1月4日
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

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521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2019年1月4日
ISBN13 9783030092986
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 521
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
言語 ドイツ語  
編集者 Glatzel, Thilo
編集者 Sadewasser, Sascha

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