Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40 - - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783031593635 - 2025年7月14日
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Recent Advances in Microelectronics Reliability: Contributions from the European ECSEL JU project iRel40

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This book describes the latest progress in reliability analysis of microelectronic products. More importantly, this book tries to present methodologies and useful approaches in analyzing a failure and in relating a failure to the reliability of electronic devices.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2025年7月14日
ISBN13 9783031593635
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 403
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   633 g
言語 ドイツ語  
編集者 Pressel, Klaus
編集者 Soyturk, Mujdat
編集者 Van Driel, Willem Dirk

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