Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - 書籍 - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 2025年2月7日
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

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From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2025年2月7日
ISBN13 9783031442353
出版社 Springer International Publishing AG
ページ数 366
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
言語 ドイツ語  

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