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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2025年2月7日 |
| ISBN13 | 9783031442353 |
| 出版社 | Springer International Publishing AG |
| ページ数 | 366 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 664 g |
| 言語 | ドイツ語 |