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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation Fangzhou Xia 2024 edition
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Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation
Fangzhou Xia
From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).
370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2024年2月7日 |
| ISBN13 | 9783031442322 |
| 出版社 | Springer International Publishing AG |
| ページ数 | 366 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 823 g |
| 言語 | ドイツ語 |