Noise in Nanoscale Semiconductor Devices - - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030375027 - 2021年4月27日
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Noise in Nanoscale Semiconductor Devices 2020 edition

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III-V materials, 2D materials, and multi-state defects. Describes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices; Enables readers to design more reliable semiconductor devices; Offers the most up-to-date information on point defects, based on physical microscopic models.

729 pages, 443 Illustrations, color; 107 Illustrations, black and white; VI, 729 p. 550 illus., 443

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2021年4月27日
ISBN13 9783030375027
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 729
寸法 157 × 233 × 41 mm   ·   1,08 kg
言語 ドイツ語  
編集者 Grasser, Tibor

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