Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization - Sheldon Tan - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030261719 - 2019年9月25日
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization 2019 edition

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460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2019年9月25日
ISBN13 9783030261719
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 460
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   916 g
言語 ドイツ語  

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