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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization Sheldon Tan 2019 edition
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Sheldon Tan
460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2019年9月25日 |
| ISBN13 | 9783030261719 |
| 出版社 | Springer Nature Switzerland AG |
| ページ数 | 460 |
| 寸法 | 150 × 220 × 20 mm · 916 g |
| 言語 | ドイツ語 |