Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization - Sheldon Tan - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030261740 - 2020年9月25日
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Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization 2019 edition


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460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2020年9月25日
ISBN13 9783030261740
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 460
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   765 g
言語 ドイツ語  

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