Introduction to Quantum Metrology: The Revised SI System and Quantum Standards - Waldemar Nawrocki - 書籍 - Springer Nature Switzerland AG - 9783030196790 - 2020年8月14日
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Waldemar Nawrocki
Introduction to Quantum Metrology: The Revised SI System and Quantum Standards Second Edition 2019 edition

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This book discusses the theory of quantum effects used in metrology, and presents the author’s research findings in the field of quantum electronics.

326 pages, 40 Tables, color; 62 Illustrations, color; 90 Illustrations, black and white; XIV, 326 p.

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2020年8月14日
ISBN13 9783030196790
出版社 Springer Nature Switzerland AG
ページ数 326
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   522 g
言語 英語  

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