Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices - - 書籍 - Institution of Engineering and Technolog - 9781785616556 - 2019年12月16日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

価格
¥ 25.029
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年10月23日 - 年11月10日

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

This book provides an up-to-date review of the experimental and theoretical methods used for studying defects in semiconductors, this book focuses on recent developments driven by the requirements of new materials, including nitrides, oxide semiconductors and 2-D semiconductors.

596 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2019年12月16日
ISBN13 9781785616556
出版社 Institution of Engineering and Technolog
ページ数 596
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   1,09 kg
編集者 Tuomisto, Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland)

同じ出版社からのその他の記事