Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices - - 書籍 - Institution of Engineering and Technolog - 9781785616556 - 2019年12月16日
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Characterisation and Control of Defects in Semiconductors - Materials, Circuits and Devices

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This book provides an up-to-date review of the experimental and theoretical methods used for studying defects in semiconductors, this book focuses on recent developments driven by the requirements of new materials, including nitrides, oxide semiconductors and 2-D semiconductors.

596 pages

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2019年12月16日
ISBN13 9781785616556
出版社 Institution of Engineering and Technolog
ページ数 596
寸法 150 × 220 × 20 mm   ·   1,09 kg
編集者 Tuomisto, Filip (Professor, University of Helsinki, Department of Physics, Finland)

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