X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications - Myeongkyu Lee - 書籍 - Apple Academic Press Inc. - 9781771882989 - 2016年2月11日
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X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications 第1 版


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This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how


302 pages, 219 black & white illustrations

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2016年2月11日
ISBN13 9781771882989
出版社 Apple Academic Press Inc.
ページ数 302
寸法 152 × 229 × 23 mm   ·   720 g
言語 英語  

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