Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience - Jian Min Zuo - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493966059 - 2016年10月26日
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Jian Min Zuo
Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience 1st ed. 2017 edition

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As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy.

755 pages, 92 black & white illustrations, 218 colour illustrations, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2016年10月26日
ISBN13 9781493966059
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 729
寸法 155 × 235 × 44 mm   ·   1,42 kg
言語 英語  

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