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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition
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Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2016年10月1日 |
| ISBN13 | 9781493955299 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 810 |
| 寸法 | 150 × 220 × 10 mm · 1,37 kg |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Grasser, Tibor |