Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 2014年11月28日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

価格
¥ 18.298
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年8月12日 - 年8月24日
Rajesh Garg の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー
Trustpilotで高評価
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

他の形態でも入手可能：

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年11月28日
ISBN13 9781489985101
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 212
寸法 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事

Rajesh Gargのすべてを見る ( 例： Hardcover Book および Paperback Book )