Patrick Girard
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices Patrick Girard 2010 edition

Name: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Price: 21233 JPY
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Author: Patrick Girard

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2010 edition

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices

Patrick Girard

2010 edition

This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices.

363 pages, 24 black & white tables, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2014年9月5日
ISBN13	9781489983138
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	363
寸法	155 × 235 × 20 mm · 539 g
言語	英語
編集者	Girard, Patrick
編集者	Nicolici, Nicola
編集者	Wen, Xiaoqing