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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems Johan Liu 2011 edition
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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems
Johan Liu
Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems.
204 pages, 50 black & white tables, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2014年10月11日 |
| ISBN13 | 9781489982117 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 204 |
| 寸法 | 155 × 235 × 12 mm · 312 g |
| 言語 | 英語 |