Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems - Johan Liu - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489982117 - 2014年10月11日
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Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems 2011 edition

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Reliability of Microtechnology discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems.


204 pages, 50 black & white tables, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年10月11日
ISBN13 9781489982117
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 204
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   312 g
言語 英語  

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