Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 2013年6月4日
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John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年6月4日
ISBN13 9781489915245
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 462
寸法 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
言語 英語  
編集者 Thong, John T.L.

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