Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 2013年6月4日
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Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

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Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年6月4日
ISBN13 9781475793277
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 250
寸法 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
言語 英語  
編集者 Cohen, Samuel H.
編集者 Lightbody, Marcia L.

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