Benoit Nadeau-dostie
Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing Benoit Nadeau-dostie Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Name: Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing
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Author: Benoit Nadeau-dostie

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Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement - Frontiers in Electronic Testing

Benoit Nadeau-dostie

Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels.

239 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2013年4月26日
ISBN13	9781475782912
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	239
寸法	178 × 254 × 14 mm · 458 g
言語	英語
編集者	Nadeau-Dostie, Benoit