Electrothermal Analysis of VLSI Systems - Yi-Kan Cheng - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475773736 - 2013年4月20日
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Yi-Kan Cheng
Electrothermal Analysis of VLSI Systems Softcover reprint of the original 1st ed. 2000 edition

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This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. The authors present three important applications of VLSI electrothermal analysis: temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement, and temperature-driven power and timing analysis.

210 pages, 36 black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2013年4月20日
ISBN13 9781475773736
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 210
寸法 155 × 235 × 13 mm   ·   340 g
言語 英語  

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