Ugo Valdre
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Ugo Valdre Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

Name: Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B:
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Author: Ugo Valdre

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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B:

Ugo Valdre

Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.

319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2012年11月25日
発売日	1989
ISBN13	9781461595397
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	319
寸法	170 × 244 × 17 mm · 530 g
言語	英語
編集者	Valdre, Ugo