Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 - - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461399988 - 2012年6月2日
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Advances in X-Ray Analysis: Volume 33 Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

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The Plenary Session on x-ray analysis of thin films did not just happen this year but really began four years ago with Paul Predecki suggesting a special session devoted to thin film techniques. They were invited speakers for the 1985 special session on thin films and instructors for the 1987 workshop on epitaxial thin films.

724 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年6月2日
ISBN13 9781461399988
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 704
寸法 150 × 220 × 10 mm   ·   1,14 kg
言語 英語  
編集者 Barrett, Charles S.
編集者 Gilfrich, John V.
編集者 Huang, Ting C.
編集者 Jenkins, Ron

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