Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Name: Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing
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Multi-Chip Module Test Strategies - Frontiers in Electronic Testing

Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.

167 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2012年10月4日
ISBN13	9781461377986
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	167
寸法	150 × 220 × 10 mm · 369 g
言語	英語
編集者	Zorian, Yervant