Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering - Kai-yuan Cai - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375593 - 2012年10月12日
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Software Defect and Operational Profile Modeling - International Series in Software Engineering Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

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268 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月12日
ISBN13 9781461375593
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 268
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   412 g
言語 英語  

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