John W Sheppard
Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis - Frontiers in Electronic Testing John W Sheppard Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

Name: Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis - Frontiers in Electronic Testing
Price: 24326 JPY
Availability: OutOfStock
Author: John W Sheppard

価格

¥ 24.326

税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日年10月5日 - 年10月15日

John W Sheppard の新しいリリースのお知らせを受け取る

お客様の声：

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

EU消費者保護法に基づく14日間の返品ポリシー

Trustpilotで高評価

iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

Research Perspectives and Case Studies in System Test and Diagnosis - Frontiers in Electronic Testing

John W Sheppard

Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1998 edition

232 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2012年10月26日
発売日	1998
ISBN13	9781461375357
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	232
寸法	155 × 235 × 13 mm · 353 g
言語	英語
編集者	Sheppard, John W.
編集者	Simpson, William R.