Lawrence C Wagner
Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Lawrence C Wagner Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

Name: Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Author: Lawrence C Wagner

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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Lawrence C Wagner

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2012年11月9日
ISBN13	9781461372318
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	255
寸法	155 × 235 × 14 mm · 385 g
言語	英語
編集者	Wagner, Lawrence C.