IDDQ Testing of VLSI Circuits - Ravi K Gulati - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461363774 - 2012年10月12日
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Ravi K Gulati
IDDQ Testing of VLSI Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

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Power supply current monitoring to detect CMOS IC defects during production testing quietly laid down its roots in the mid-1970s. New results on test generation, fault simulation, design for testability, built-in self-test, and diagnosis for this style of testing have since been reported.

128 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年10月12日
ISBN13 9781461363774
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 124
寸法 178 × 254 × 7 mm   ·   240 g
言語 英語  
編集者 Gulati, Ravi K.
編集者 Hawkins, Charles F.

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