Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits - Jian Cheng Zhang - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461359357 - 2012年11月2日
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Jian Cheng Zhang
Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

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Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications.

234 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年11月2日
発売日 1995
ISBN13 9781461359357
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 234
寸法 155 × 235 × 13 mm   ·   362 g
言語 英語  

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