この商品を友人に教える:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
価格
¥ 18.437
税抜
遠隔倉庫からの取り寄せ
発送予定日 2026年1月2日 - 2026年1月14日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
iMusicのウィッシュリストに追加
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| メディア | 書籍 Book |
| リリース済み | 2013年5月31日 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 689 |
| 寸法 | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| 言語 | 英語 |
Joseph Goldsteinの他の作品を見る
すべて表示この商品を買った人はこんな商品も購入
Joseph Goldsteinのすべてを見る ( 例: Paperback Book , Hardcover Book , Book , CD および Oracle cards/tarot c )