Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - 2013年5月31日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

価格
¥ 18.437
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 2026年1月2日 - 2026年1月14日
クリスマスプレゼントは1月31日まで返品可能です
iMusicのウィッシュリストに追加

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

メディア 書籍     Book
リリース済み 2013年5月31日
ISBN13 9781461349693
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 689
寸法 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
言語 英語  

Joseph Goldsteinの他の作品を見る

すべて表示

この商品を買った人はこんな商品も購入