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Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Joseph Goldstein Softcover reprint of the original 1st ed. 1975 edition
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Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis
Joseph Goldstein
In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.
582 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2011年10月12日 |
| ISBN13 | 9781461344247 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 582 |
| 寸法 | 155 × 235 × 31 mm · 834 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Goldstein, Joseph |
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