Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis - Joseph Goldstein - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461344247 - 2011年10月12日
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Practical Scanning Electron Microscopy: Electron and Ion Microprobe Analysis Softcover reprint of the original 1st ed. 1975 edition

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In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end.


582 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年10月12日
ISBN13 9781461344247
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 582
寸法 155 × 235 × 31 mm   ·   834 g
言語 英語  
編集者 Goldstein, Joseph

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