Learning from Good and Bad Data - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Philip D. Laird - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461289517 - 2011年10月5日
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Learning from Good and Bad Data - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

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発送予定日 年10月5日 - 年10月15日
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This monograph is a contribution to the study of the identification problem: the problem of identifying an item from a known class us ing positive and negative examples. * Study cognitive models of learning in humans and extrapolate from them general principles to explain learning behavior.


212 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年10月5日
ISBN13 9781461289517
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 212
寸法 155 × 235 × 12 mm   ·   331 g
言語 英語  

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