Hierarchical Modeling for Vlsi  Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Debashis Bhattacharya - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461288190 - 2011年9月26日
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Hierarchical Modeling for Vlsi Circuit Testing - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1990 edition

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160 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年9月26日
ISBN13 9781461288190
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 160
寸法 155 × 235 × 10 mm   ·   254 g
言語 英語  

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