Niraj K. Jha
Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Niraj K. Jha Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

Name: Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Author: Niraj K. Jha

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Testing and Reliable Design of CMOS Circuits - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Niraj K. Jha

Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

In the last few years CMOS technology has become increas ingly dominant for realizing Very Large Scale Integrated (VLSI) circuits. However, the rapid advance ments in this area pose many new problems in the area of testing. Today many universities offer courses in the areas of digital system testing and fault-tolerant computing.

246 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2011年9月26日
ISBN13	9781461288183
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	232
寸法	155 × 235 × 13 mm · 353 g
言語	英語