Jitendra B. Khare
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing Jitendra B. Khare Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Name: From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing
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Author: Jitendra B. Khare

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From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing

Jitendra B. Khare

Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

メディア	書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み	2011年9月26日
ISBN13	9781461285953
出版社	Springer-Verlag New York Inc.
ページ数	150
寸法	155 × 235 × 9 mm · 249 g
言語	英語