From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - 書籍 - Springer - 9780792397144 - 1996年4月30日
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Jitendra B. Khare
From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing 1996 edition

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Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 1996年4月30日
ISBN13 9780792397144
出版社 Springer
ページ数 150
寸法 155 × 235 × 11 mm   ·   417 g
言語 英語  

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