Rapid Reliability Assessment of VLSICs - A.P. Dorey - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278795 - 2012年3月8日
カバー画像とタイトルが一致しない場合、正しいのはタイトルです

Rapid Reliability Assessment of VLSICs Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition

価格
¥ 8.911
税抜

遠隔倉庫からの取り寄せ

発送予定日 年9月22日 - 年10月2日
A.P. Dorey の新しいリリースのお知らせを受け取る
iMusicのウィッシュリストに追加

まだ評価がありません

The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.


212 pages, black & white illustrations

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2012年3月8日
ISBN13 9781461278795
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 212
寸法 170 × 244 × 12 mm   ·   349 g
言語 英語  

同じ出版社からのその他の記事