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Rapid Reliability Assessment of VLSICs A.P. Dorey Softcover reprint of the original 1st ed. 1990 edition
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Rapid Reliability Assessment of VLSICs
A.P. Dorey
The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service.
212 pages, black & white illustrations
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2012年3月8日 |
| ISBN13 | 9781461278795 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 212 |
| 寸法 | 170 × 244 × 12 mm · 349 g |
| 言語 | 英語 |