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Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B David Cherns Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition
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Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B
David Cherns
With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.
412 pages, biography
| メディア | 書籍 Paperback Book (ソフトカバーで背表紙を接着した本) |
| リリース済み | 2011年10月13日 |
| ISBN13 | 9781461278504 |
| 出版社 | Springer-Verlag New York Inc. |
| ページ数 | 412 |
| 寸法 | 170 × 244 × 22 mm · 680 g |
| 言語 | 英語 |
| 編集者 | Cherns, David |