Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B - David Cherns - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461278504 - 2011年10月13日
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Evaluation of Advanced Semiconductor Materials by Electron Microscopy - NATO Science Series B Softcover reprint of the original 1st ed. 1989 edition

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With these developments in mind, an application was made to the NATO Science Committee in late summer 1987 to fund an Advanced Research Work shop to review the electron microscopy of advanced semiconductors.


412 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2011年10月13日
ISBN13 9781461278504
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 412
寸法 170 × 244 × 22 mm   ·   680 g
言語 英語  
編集者 Cherns, David

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