Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems - Tomi Laurila - 書籍 - Springer London Ltd - 9781447160687 - 2014年2月22日
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems 2012 edition

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This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.


218 pages, biography

メディア 書籍     Paperback Book   (ソフトカバーで背表紙を接着した本)
リリース済み 2014年2月22日
ISBN13 9781447160687
出版社 Springer London Ltd
ページ数 218
寸法 155 × 235 × 15 mm   ·   317 g
言語 英語  

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