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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems Tomi Laurila 2012 edition
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Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach - Microsystems
Tomi Laurila
This book provides solutions to several common reliability issues in microsystem packaging. It teaches the reader methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials.
240 pages, 113 black & white illustrations, 15 colour illustrations, biography
| メディア | 書籍 Hardcover Book (ハードカバー付きの本) |
| リリース済み | 2012年1月13日 |
| ISBN13 | 9781447124696 |
| 出版社 | Springer London Ltd |
| ページ数 | 218 |
| 寸法 | 155 × 235 × 18 mm · 453 g |
| 言語 | 英語 |