Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing - Michael Nicolaidis - 書籍 - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441969927 - 2010年9月30日
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Michael Nicolaidis
Soft Errors in Modern Electronic Systems - Frontiers in Electronic Testing 2011 edition

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Provides a comprehensive presentation of the research results and technological developments enabling understanding, qualifying and mitigating the soft errors effect in advanced electronics, including the fundamental physical mechanisms of radiation induced soft errors, the various steps that lead to a system failure, and more.

336 pages, biography

メディア 書籍     Hardcover Book   (ハードカバー付きの本)
リリース済み 2010年9月30日
ISBN13 9781441969927
出版社 Springer-Verlag New York Inc.
ページ数 318
寸法 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
言語 英語  
編集者 Nicolaidis, Michael

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